Strona korzysta z plików cookies w celu realizacji usług i zgodnie z Polityką Plików Cookies .

Możesz określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w Twojej przeglądarce.

Canon EOS 33V

Canon EOS 33V

Producent: Canon

Kup ten produkt na Ceneo

Kup ten produkt na Allegro

Ceny w sklepach ceneo

Oferty allegro

Opis produktu

" Modele EOS 30V Date i EOS 33V to nowe lustrzanki jednoobiektywowe na film. Oba aparaty oferują najszybszy autofokus (AF), najszybsze strojenie podążające za obiektem i największą szybkość zdjęć seryjnych w swojej klasie. Mogą śledzić obiekt zbliżający się z prędkością 50 km/h do odległości 8 metrów od aparatu i fotografować z szybkością 4 klatek na sekundę - to zdecydowanie szybciej niż ich najbliżsi rywale. Model EOS 30V Date został wyposażony w szeroki, 7-punktowy czujnik AF kontrolowany wzrokiem, oparty na śledzeniu ruchu oka fotografującego. Oba aparaty są dostępne jako sam korpus lub w zestawie standardowym z obiektywem Canon EF 28-105mm f/4-5.6.

Odpowiednio solidny metalowy korpus ma wyjątkowe matowe wykończenie, które idealnie pasuje do doskonale wyposażonych aparatów, zaprojektowanych specjalnie dla zaawansowanych fotografów. Oba aparaty wyposażono w nowy system pomiaru błysku E-TTL II, który wykorzystuje informacje o odległości od fotografowanego obiektu. Doskonale widoczny podświetlany wyświetlacz OLC pozwala łatwo sprawdzić ustawienia w słabym oświetleniu.

Nowy pomiar błysku E-TTL II
Z lampami błyskowymi z serii Canon EX-Speedlite aparaty EOS 30V Date i EOS 33V wykorzystują nowy pomiar błysku E-TTL II. E-TTL II pozwala zmniejszyć liczbę nieprawidłowych ekspozycji, ponieważ łączy informację na temat odległości od fotografowanego obiektu z 35-segmentowym pomiarem przedbłysku. Obszary z dużą ilością odblasków są ignorowane przy obliczaniu siły błysku, co znacznie zmniejsza prawdopodobieństwo błędów, spowodowanych przez odbicia światła od fotografowanego obiektu. Nowy system pozwala też na zablokowanie ostrości i przekomponowanie zdjęcia, bez obawy o niedoświetlenie lub prześwietlenie spowodowane przez fakt, że fotografowany obiekt nie pokrywał się z punktem AF. Nowy algo"