Strona korzysta z plików cookies w celu realizacji usług i zgodnie z Polityką Plików Cookies .

Możesz określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w Twojej przeglądarce.

cokupic.pl Opinie Księgarnia Książki Informatyka Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych
Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych

Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych

Kup ten produkt na Ceneo

Kup ten produkt na Allegro

Ceny w sklepach ceneo

Oferty allegro

Opis produktu

W książce zawarto analizę zintegrowanych środowisk pomiarowych - LabWindows/CVI, LabVIEW (National Instruments), VEE (Hewlett Packard/Agilent), TestPoint (Keithley Instruments), DasyLab (DASYTEC) oraz zintegrowanych środowisk automatyki przemysłowej - BridgeVIEW, Lookout (National Instruments), GeniDAQ (Advantech). Przedstawiono metodykę projektowania systemów, a w zakresie środowisk pomiarowych dokonano ich eksperymentalnej weryfikacji.Książka ukazuje możliwości, jakie posiadają dzisiejsze graficzne, zintegrowane środowiska programowe, zarówno pomiarowe, jak i automatyki przemysłowej. Podejmuje próbę oceny jakościowej badanych środowisk oraz wskazuje na problemy mogące wyłonić się w procesie projektowania systemów pomiarowych.
  • Ilość stron: 280
  • Wydawnictwo: MIKOM
  • Rok wydania: 2001
  • Oprawa: miękka
  • Format: 17 x 24
  • Tematyka: Programowanie