Strona korzysta z plików cookies w celu realizacji usług i zgodnie z Polityką Plików Cookies .

Możesz określić warunki przechowywania lub dostępu do plików cookies w Twojej przeglądarce.

cokupic.pl Opinie Księgarnia Książki Podręczniki akademickie Nauki techniczne Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych

Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych

Kup ten produkt na Ceneo

Kup ten produkt na Allegro

Ceny w sklepach ceneo

Oferty allegro

Opis produktu

Autor: Praca zbiorowaTytuł: Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji Rok wydania: 2005Ilość stron: 80 Numer ISBN: 838781492X
  • Ilość stron: 80
  • Wydawnictwo: Amber